扫描电镜检测的步骤及方法

*** 次数：1999998 已用完，请联系开发者***

三星申请扫描电子显微镜(SEM)测量方法和装置专利,减小关键尺寸测量...金融界2024年3月5日消息,据国家知识产权局公告,三星电子株式会社申请一项名为“扫描电子显微镜(SEM)测量方法和装置“,公开号CN117647180A,申请日期为2023年8月。专利摘要显示,提供了一种扫描电子显微镜(SEM)测量方法和/或装置,其根据相同图案的若干SEM图像中的关键尺...

╯０╰

长鑫存储申请扫描电子显微镜的扫描方法及扫描电子显微镜专利,可以...本公开提供一种扫描电子显微镜的扫描方法以及扫描电子显微镜,扫描电子显微镜包括对向设置的第一探测器和第二探测器,扫描方法包括:分第一方向和第二方向对目标样品进行多次隔行扫描,以根据所述第一探测器和所述第二探测器接收的电子束形成所述目标样品的检测图像;其中,相邻...

ˋ﹏ˊ

闳康技术检测(上海)有限公司取得适用多角度观测的样品台专利,能够...金融界2024年12月2日消息,国家知识产权局信息显示,闳康技术检测(上海)有限公司取得一项名为“一种适用多角度观测的样品台”的专利,授权... 利用调节组件调节载台的位置,使扫描电镜对准位于不同角度的样品座上的样品,即可实现多角度观测,能够满足不同的测试需要,有效提高扫描电...

中科科仪取得真空内检测装置及扫描电镜专利,通过对目标样品所拍摄...金融界 2024 年 8 月 21 日消息,天眼查知识产权信息显示,北京中科科仪股份有限公司取得一项名为“一种真空内检测装置及扫描电镜“,授权公告号 CN118073158B,申请日期为 2024 年 1 月。专利摘要显示,本发明公开了一种真空内检测装置及扫描电镜,所述真空内检测装置包括:相机连...

物元半导体申请基于关键尺寸扫描电子显微镜的堆叠误差测量与补偿...有限公司申请一项名为“基于关键尺寸扫描电子显微镜的堆叠误差测量与补偿方法”的专利,公开号 CN 118748156 A,申请日期为 2024 年 6 月。专利摘要显示,本发明涉及一种基于关键尺寸扫描电子显微镜(CDSEM)的堆叠误差(Overlay)测量与补偿方法,包括如下步骤:按照设定的结构和...

万向钱潮获得发明专利授权:“一种轴承表面剥落失效检测方法”专利名为“一种轴承表面剥落失效检测方法”,专利申请号为CN202311404876.8,授权日为2024年1月26日。专利摘要:本发明涉及变速箱机械系统设计技术领域,具体而言,涉及一种轴承表面剥落失效检测方法。检测步骤包括:清洗,宏观检测,微观扫描电镜检测,火花直读光谱仪分析检测,材...

中南股份申请杯状断口裂纹源的试样制备方法、检测方法、应用专利,...检测方法、应用“,公开号CN117723359A,申请日期为2023年11月。专利摘要显示,本发明公开了一种杯状断口裂纹源的试样制备方法、检测方法、应用,涉及钢铁缺陷检测技术领域。包括将杯状断口试样置于扫描电子显微镜下检测,获得杯状断口试样的断口端面与杯状断口试样的裂纹源...

钢研纳克:子公司扫描电镜可用于半导体等多领域的综合显微成像金融界6月12日消息,有投资者在互动平台向钢研纳克提问:董秘你好,公司拥有电镜产业子公司,有考虑发展半导体检测业务吗?公司回答表示:公司主要开展金属材料检测相关业务,子公司扫描电镜为通用高端显微成像仪器,可用于材料、半导体、生物医疗等领域的综合显微成像,半导体领域...

钢研纳克:公司目前生产及销售八大类共60余种检测设备,将继续聚焦...有投资者在互动平台向钢研纳克提问:请问贵司用于检测白乳胶缺陷检测设备是已经量产了吗?贵司是否考虑布局研发,如晶圆缺陷等.?公司回答表示:公司目前生产及销售直读光谱仪、气体元素分析仪、X 射线荧光光谱仪、ICP 光谱仪、ICP-MS 质谱仪、扫描电子显微镜、材料试验机及无...

＋▽＋ 云南山区神秘洞穴,距今150000年前,疑似外星人访问地球的证据中国云南省山区发现了一些神秘痕迹,它们被研究者认为可能是外星文明访问地球的证据。这些痕迹出现在一个岩石洞穴内,洞穴距今将近150,000年。这些痕迹包括了类似微小熔融坑、突起、分叉、分支、拉伸和微观断面的形态,通过扫描电子显微镜、同位素测量以及数值模拟等手段,研...